ISSN 1991-2927
 

АПУ № 1 (55) 2019

Автоматизация процессов измерения светотехнических характеристик наноструктурированных индикаторных устройств

УДК 681.883.7

Максимова Оксана Вадимовна, Ульяновский государственный технический университет, кандидат технических наук, доцент кафедры «Проектирование и технология электронных средств» Ульяновского государственного технического университета. Имеет статьи, монографии в области оптоэлектроники и СВЧ-техники. [e-mail: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра. ]О.В. Максимова,

Мойсеенко Сергей Владимирович, Российский университет дружбы народов, окончил Российский университет дружбы народов, аспирант кафедры «Кибернетика и мехатроника» РУДН. Имеет статьи в области автоматизации измерений параметров жидкокристаллических структур. [e-mail: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра. ]С.В. Мойсеенко,

Максимов Сергей Михайлович, УлГТУ, окончил УлГТУ по специальности «Проектирование и технология электронных средств», аспирант кафедры «Проектирование и технология электронных средств» УлГТУ. Имеет статьи в области оптоэлектроники. [e-mail: Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра. ]С.М. Максимов

Автоматизация процессов измерения светотехнических характеристик наноструктурированных индикаторных устройств39_14.pdf

В настоящее время уже невозможно представить электронное устройство без эргономичного средства отображения информации. Для разработки современных и перспективных средств отображения информации необходимо постоянно исследовать новые материалы и конструкции индикаторов, а также их параметры. Изучение таких структур является комплексной задачей и требует значительного труда исследователей и разработчиков. Поэтому развитие автоматизированных способов измерения параметров дисплеев является актуальной задачей, так как позволяет ускорить процесс поиска новых материалов и конструкций с оптимальными параметрами. Сотрудниками Ульяновского государственного технического университета совместно с учеными Российского университета дружбы народов были проведены исследования методов и средств измерения основных параметров жидкокристаллических структур и тонкопленочных электролюминесцентных излучателей. Результатом совместной работы стали идеи формирования концептуальных подходов к разработке автоматизированных систем измерения светотехнических параметров наноструктурированных индикаторных элементов.

Тонкопленочный индикатор, яркость, светоотдача, жидкие кристаллы, автоматизация, формализация, измерения, электролюминесценция.

© ФНПЦ АО "НПО "Марс", 2009-2018 Работает на Joomla!