ISSN 1991-2927
 

АПУ № 2 (52) 2018

Автор: "Тетенькин Ярослав Геннадьевич"

УДК 681.518.3

Сергеев Вячеслав Андреевич, Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, доктор технических наук, доцент, окончил физический факультет Горьковского государственного университета им. Н.И. Лобачевского. Директор Ульяновского филиала Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, заведующий базовой кафедрой «Радиотехника, опто- и наноэлектроника» Ульяновского государственного технического университета. Имеет монографии, статьи и изобретения в области исследования характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем, измерения их тепловых параметров. [e-mail: sva@ulstu.ru]В.А. Сергеев,

Куликов Александр Александрович, Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, окончил радиотехнический факультет УлГТУ. Ведущий инженер УФИРЭ им. В.А. Котельникова РАН, аспирант базовой кафедры «Радиотехника, опто- и наноэлектроника» УлГТУ. Имеет публикации в области разработки автоматизированных средств измерения параметров полупроводниковых приборов. [e-mail: ufire@mv.ru]А.А. Куликов,

Тарасов Руслан Геннадьевич, АО «НПП «Завод Искра», окончил Ульяновское высшее военное инженерное училище связи. Директор АО «НПП «Завод Искра», соискатель базовой кафедры «Радиотехника, опто- и наноэлектроника» УлГТУ. Имеет публикации в области разработки методов и средств измерения параметров и контроля качества изделий радиоэлектроники. [e-mail: rgtarasov@mail.ru]Р.Г. Тарасов,

Тетенькин Ярослав Геннадьевич, Ульяновское конструкторское бюро приборостроения, кандидат технических наук, окончил радиотехнический факультет УлГТУ. Введущий инженер Ульяновского конструкторского бюро приборостроения. Имеет научные публикации и изобретения в области автоматизации измерений и исследования характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем, измерения их тепловых параметров. [e-mail: a732041@yandex.ru]Я.Г. Тетенькин

Установка для измерения напряжения шнурования тока в структурах мощных вч- и свч-транзисторов000_13.pdf

Представлен краткий обзор известных способов и средств измерения напряжения шнурования тока в структурах мощных ВЧ- и сВЧ-биполярных и гетеробиполярных транзисторов (Мбт) в активном режиме включения. Показано, что для приборов, работающих в квазинепрерывном режиме, эффективными являются способы, основанные на измерении крутизны зависимости U ЭБ )напряжения на эмиттерном переходе от коллекторного напряжения. ( U КБ Описана установка для измерения напряжения шнурования тока в Мбт, принцип работы которой основан на измерении амплитуды переменной составляющей напряжения Ũ Э Б на эмиттерном переходе Мбт при пропускании через транзистор постоянного эмиттерного тока и подаче на коллектор суммы линейно нарастающего и малого переменного напряжения. шнурование тока в транзисторной структуре проявляется в резком возрастании крутизны зависимости Ũ Э Б ). Описан алгоритм косвенного определения напряжения локализации тока в транзисторной ( U КБ структуре по измеренным значениям на начальном участке указанных зависимостей без попадания контролируемого Мбт в режим «горячего пятна».

Мощные вч- и свч-транзисторы, теплоэлектрическая неустойчивость, напряжение шнурования тока, установка, измерение.

2017_ 3

Рубрика: Электротехника и электронные устройства

Тематика: Электротехника и электронные устройства, Математическое моделирование.


УДК 621.382.8.017.7

Сергеев Вячеслав Андреевич, Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, доктор технических наук, доцент, окончил физический факультет Горьковского государственного университета им. Н.И. Лобачевского. Директор Ульяновского филиала Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, заведующий базовой кафедрой «Радиотехника, опто- и наноэлектроника» Ульяновского государственного технического университета при УФИРЭ им. В.А. Котельникова РАН. Имеет монографии, статьи и изобретения в области моделирования и исследования характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем, измерения их тепловых параметров. [e-mail: sva@ulstu.ru]В.А. Сергеев,

Тетенькин Ярослав Геннадьевич, Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, окончил радиотехнический факультет УлГТУ. Ведущий инженер УФИРЭ им. В.А. Котельникова РАН, соискатель базовой кафедры «Радиотехника, опто- и наноэлектроника» УлГТУ при УФИРЭ им. В.А. Котельникова РАН. Имеет научные публикации и изобретения в области автоматизации измерений и исследования характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем, измерения их тепловых параметров. [e-mail: ufire@mv.ru]Я.Г. Тетенькин

Алгоритм определения тепловых параметров цифровых интегральных схем по переходным тепловым характеристикам000_14.pdf

Представлен краткий анализ линейных тепловых моделей полупроводниковых изделий (ППИ) и алгоритмов определения параметров тепловых эквивалентных схем ППИ по переходным тепловым характеристикам (ПТХ). Отмечены сложности реализации алгоритма определения тепловых параметров ППИ методом структурных функций по стандарту JESD51-14. Описан оригинальный способ измерения ПТХ цифровых интегральных схем (ЦИС) по изменению частоты кольцевого генератора, построенного на логических элементах ЦИС. Показана возможность реализации способа с помощью усовершенствованного аппаратно-программного комплекса для измерения тепловых параметров ЦИС. Предложен простой алгоритм расчета тепловых параметров ППИ по нулям второй производной ПТХ, соответствующим точкам наибольшей и наименьшей крутизны изменения ПТХ. Указанный алгоритм расчета тепловых параметров апробирован на примере ПТХ КМОП ЦИC типа CD4011, измеренной с помощью усовершенствованного аппаратно-программного комплекса. Обсуждается возможность автоматизации алгоритма с помощью микроконтроллерных средств, встроенных в состав измерительного комплекса.

Полупроводниковые изделия, тепловая схема, тепловые параметры, переходная тепловая характеристика, цифровые интегральные схемы, измерение, алгоритм расчета.

2016_ 1

Рубрика: Электротехника и электронные устройства

Тематика: Электротехника и электронные устройства.


УДК 621.382.8.017.7

Сергеев Вячеслав Андреевич, Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, доктор технических наук, доцент, окончил физический факультет Горьковского государственного университета. Директор Ульяновского филиала Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, заведующий базовой кафедрой «Радиотехника, опто- и наноэлектроника» УлГТУ при УФИРЭ им. В.А.Котельникова РАН. Имеет монографии, статьи и изобретения в области моделирования и исследования характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем, измерения их тепловых параметров. [e-mail: sva@ulstu.ru]В.А. Сергеев,

Тетенькин Ярослав Геннадьевич, Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, окончил радиотехнический факультет Ульяновского государственного технического университета. Ведущий инженер Ульяновского филиала Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. Имеет научные публикации и изобретения в области автоматизации измерений и исследования характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем, измерения их тепловых параметров. [e-mail: ufire@mv.ru]Я.Г. Тетенькин

Определение тепловых параметров цифровых микросхем по температурным зависимостям времени задержки сигнала000_12.pdf

Рассмотрены известные методы измерения тепловых параметров цифровых интегральных схем (ЦИС). Показана возможность использования времени задержки сигнала логических элементов ЦИС в качестве температурочувствительного параметра (ТЧП) при измерении тепловых параметров ЦИС. Это позволяет преодолеть ряд сложностей и недостатков известных методов измерения тепловых параметров ЦИС с использованием в качестве ТЧП электрических параметров ЦИС и упростить автоматизацию процесса измерения. Предложен способ измерения тепловых параметров ЦИС по изменению частоты кольцевого генератора (КГ), построенного на логических инверторах ЦИС, при саморазогреве ЦИС потребляемой электрической мощностью. Приведена оценка точности измерений компонент теплового сопротивления КМОП ЦИС с использованием предложенного способа. Описан автоматизированный аппаратно-программный комплекс для исследования переходных тепловых характеристик КМОП ЦИС, позволяющий существенно повысить точность и разрешающую способность измерений тепловых параметров.

Цифровые интегральные схемы, тепловые параметры, измерение, время задержки сигнала, кольцевой генератор, частота генерации, температурная зависимость.

2015_ 3

Рубрика: Электротехника и электронные устройства

Тематика: Электротехника и электронные устройства.


© ФНПЦ АО "НПО "Марс", 2009-2018 Работает на Joomla!